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Giovanni_Pareschi_XrayOptics.pdf

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Per la prima volta l’INAF ha organizzato il prestigioso simposio internazionale della Scientific Instrument Commission (SIC), che riunisce annualmente esperti di strumenti scientifici storici

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E’ stata avviata la procedura di selezione per i direttori di 2 istituti INAF. La scadenza per la presentazione delle candidature è fissata per il 30 novembre

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